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GOM Education Award geht an die ETH Zürich

(11.10.2017) Die Gewinner des GOM Education Awards stehen fest: Ein dreiköpfiges Team der ETH Zürich konnte den mit 3000 Euro dotierten Studenten-Wettbewerb zum Thema 3D-Scanning für sich entscheiden.


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Mit dem GOM Education Award fördert der Messtechnik-Spezialist GOM die praxisnahe Ausbildung im Bereich der 3D-Messtechnik. Studenten aus aller Welt waren dazu aufgerufen, eigenständig einen Praktikumsversuch in englischer Sprache zu erarbeiten, der die Digitalisierung von Objekten mittels 3D-Scanners verdeutlicht. Die Umsetzung des Versuchs erfolgte mithilfe des Atos 3D-Scanners und der GOM Inspect Software, die das Unternehmen allen interessierten Bildungseinrichtungen im Rahmen des Bildungspakets „Atos for Education“ anbietet.


Das Gewinner-Team der ETH Zürich entschied sich für ein Scanning-Szenario aus der Forensik: Im Praktikumsversuch schlüpften die Studierenden in die Rolle eines Kriminaltechnikers, der den Schuh eines Tatverdächtigen digitalisieren muss, um ihn anschliessend mit einem Schuhabdruck am Tatort zu vergleichen.


Die von einer internationalen Fachjury ausgewählten Preisträger Ursula Kälin, Tobias Duewell und Valens Frangez erhielten nicht nur die Siegerprämie in Höhe von 3000 Euro. Sie durften zusätzlich als Referenten auf der GOM 3D Metrology Conference 2017 am 27. September 2017 auftreten, um ihren Praktikumsversuch vor Messtechnik-Experten aus über 40 Ländern zu präsentieren und wertvolle Kontakte zu knüpfen.


Das 3D-Scanning zählt zu den Schüsseltechnologien der Industrie 4.0: Es wandelt reale Objekte in flächenhafte 3D-Modelle um, stellt alle qualitätsrelevanten Daten digital dar und legt damit den Grundstein für die Einführung eines selbstorganisierenden Produktionsnetzwerks mit automatisierter Qualitätssicherung.


www.gom.com

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